bannerbanner
logologo
side-bannerside-banner
Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов
Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов

Полная версия

Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов

О книге
Настройки чтения
Размер шрифта
Высота строк
Поля
Конец ознакомительного фрагмента
Купить и скачать всю книгу

Другие книги автора

История и методология науки и техники в области электроники и нанотехнологии
История и методология науки и техники в области электроники и нанотехнологии
Дмитрий Григорьевич Крутогин
Материалы и элементы электронной техники
Материалы и элементы электронной техники
Дмитрий Григорьевич Крутогин
Метрология, стандартизация и сертификация. Основы метрологии в электронике
Метрология, стандартизация и сертификация. Основы метрологии в электронике
Дмитрий Григорьевич Крутогин
Основы технологии электронной компонентной базы. Моделирование технологических процессов получения тонкопленочных материалов
Основы технологии электронной компонентной базы. Моделирование технологических процессов получения тонкопленочных материалов
Дмитрий Григорьевич Крутогин
Физико-химические основы процессов микро- и нанотехнологий
Физико-химические основы процессов микро- и нанотехнологий
Дмитрий Григорьевич Крутогин
Основы технологии элеткронной компонентной базы
Основы технологии элеткронной компонентной базы
Дмитрий Григорьевич Крутогин
Ферритовые материалы и компоненты магнитоэлектроники
Ферритовые материалы и компоненты магнитоэлектроники
Дмитрий Григорьевич Крутогин
Функциональные материалы электроники и их технологии
Функциональные материалы электроники и их технологии
Дмитрий Григорьевич Крутогин