bannerbanner
Анализ процессов в полупроводниковых устройствах. Часть 5
Анализ процессов в полупроводниковых устройствах. Часть 5

Полная версия

Анализ процессов в полупроводниковых устройствах. Часть 5

Язык: Русский
Год издания: 2018
Добавлена:

В четвертой части учебного пособия подробно изложена физика процессов, происходящих в полевых транзисторах с барьером Шоттки на арсениде галлия, наиболее быстродействующих и широко применяемых в СВЧ-диапазоне. Рассмотрена электрофизическая модель на данный тип транзисторов и приведены практические результаты, доказывающие правомерность такой модели. Данная часть пособия полезна студентам, специализирующимся в проектировании быстродействующих электронных средств по твердотельной технологии.

Спасибо за оценку! Будем признательны, если Вы оставите комментарий.
Добавить отзыв