bannerbanner
Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Рентгеновская рефлектометрия
Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Рентгеновская рефлектометрия

Полная версия

Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Рентгеновская рефлектометрия

Кратко изложены теоретические основы метода рентгеновской рефлектометрии. Содержание пособия соответствует лекционному курсу «Дифракционные методы изучения поверхности и приборных структур», читаемому по направлению подготовки магистров 22.04.01 «Материаловедение и технологии материалов» по программе «Материаловедение функциональных материалов наноэлектроники». Необходимость издания пособия определяется тем, что по указанной тематике учебная литература отсутствует. Предназначено для магистров, обучающихся по направлению 22.04.01 «Материаловедение и технологии материалов» по программе «Материаловедение функциональных материалов наноэлектроники».

Скачать бесплатно книгу «Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Рентгеновская рефлектометрия»

a4.pdfa6.pdfepubfb2.zipfb3rtf.ziptxttxt.zippdf
Спасибо за оценку! Будем признательны, если Вы оставите комментарий.
Добавить отзыв