Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Рентгеновская рефлектометрия
Полная версия
Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Рентгеновская рефлектометрия
Кратко изложены теоретические основы метода рентгеновской рефлектометрии. Содержание пособия соответствует лекционному курсу «Дифракционные методы изучения поверхности и приборных структур», читаемому по направлению подготовки магистров 22.04.01 «Материаловедение и технологии материалов» по программе «Материаловедение функциональных материалов наноэлектроники». Необходимость издания пособия определяется тем, что по указанной тематике учебная литература отсутствует. Предназначено для магистров, обучающихся по направлению 22.04.01 «Материаловедение и технологии материалов» по программе «Материаловедение функциональных материалов наноэлектроники».
Скачать бесплатно книгу «Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Рентгеновская рефлектометрия»
a4.pdfa6.pdfepubfb2.zipfb3rtf.ziptxttxt.zippdf